Inédito em língua portuguesa na especialidade, o livro Introdução à Técnica de Espectroscopia Fotoeletrônica por raios X (XPS) dá importante suporte aos estudantes e profissionais de química, física e engenharias. A edição tem autoria da pesquisadora Fabiana Magalhães Teixeira Mendes, da área de Catálise e Processos Químicos do Instituto Nacional de Tecnologia (INT/MCT), com apoio da Fundação Carlos Chagas de Amparo à Pesquisa do Estado do Rio de janeiro (Faperj) e edição da Synergia Editora.

O lançamento ocorrerá na próxima quarta-feira, 3 de agosto, no Centro de Ciências Matemáticas e da Natureza (CCMN) da Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ), na Cidade Universitária, no Rio de Janeiro. A sessão de autógrafos será realizada no Auditório Roxinho, ao meio-dia, no intervalo do evento 5ª Escola de Nanociência e Nanotecnologia da UFRJ, que acontece durante toda a semana.

O livro objetiva iniciar o leitor nos fenômenos e práticas experimentais que compõem a técnica de XPS. A técnica serve para análise de superfícies de poucas camadas atômicas e é uma ferramenta de ponta essencial tanto à nanociência, como à nanotecnologia. Esse tipo de análise permite identificar e quantificar elementos químicos em superfícies de espessura nanométrica, além de suas interações eletrônicas e estados de oxidação.

 “A proposta da edição não é cobrir o vasto campo da teoria da espectroscopia eletrônica e de todas as técnicas de análise de superfícies, mas abordar o tema de uma forma geral e básica de modo a promover um nivelamento na teoria que envolve a técnica de XPS”, explica a autora. O livro aborda ainda a espectroscopia Auger, de forma especificífica, como parte do espectro de XPS.

O volume, que custa R$ 50, também poderá ser adquirido no site da editora ou em livrarias em todo o país.